<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Медведева И. Ф.</author>
     <author>Маркевич В. П.</author>
     <author>Толкачева Е. А.</author>
     <author>Фадеева Е. А.</author>
     <author>Жданович Д. Н.</author>
     <author>Мурин Л. И.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Калибровочные коэффициенты для определения концентрации вакансионно-кислородных комплексов и кислородного димера в кремнии методом ИК-поглощения</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>кремний</keyword>
    <keyword>вакансионно-кислородные комплексы</keyword>
    <keyword>кислородные димеры</keyword>
    <keyword>колебательные полосы поглощения</keyword>
    <keyword>калибровочные коэффициенты</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2021</year>
    <pub-dates>
     <date>2021-07-16</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <doi>10.29235/1561-8358-2021-66-2-227-233</doi>
   <journal>Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук</journal>
   <abstract>Вакансионно-кислородные комплексы VnOm (n, m ≥ 1) в кристаллах кремния являются центрами зарождения кислородных преципитатов, которые широко используются в качестве внутренних геттеров нежелательных примесей в современных технологиях изготовления кремниевых электронных приборов и интегральных ми кросхем. Для контролируемого формирования кислородных преципитатов в кристаллах Si в технологических процессах необходимы методы измерения концентрации комплексов VnOm. Целью настоящей работы было нахождение калибровочных коэффициентов для определения концентрации вакансионно-кислородных дефектов в кремнии из интенсивностей полос инфракрасного (ИК) поглощения, связанных с локальными колебательными модами (ЛКМ) этих комплексов. С использованием электрических (эффект Холла) и оптических (ИК поглощение) измерений проведено комплексное исследование вакансионно-кислородных центров в кристаллах кремния, облученных электронами с энергией 6 МэВ. На основе анализа полученных данных установлены значения калибровочных коэффициентов для определения концентрации комплекса вакансия-кислород (VO) в кремнии методом инфракрасного поглощения: для измерений при комнатной температуре (RT) – NVO = 8,5 · 1016 · αVO-RT см–3, в случае низкотемпературных (LT, Т ≡ 10 К) измерений – N VO = 3,5 · 1016 · αVO-LT см–3, где αVO-RT(LT) – коэффициенты поглощения в максимумах полос ЛКМ комплекса VO в спектрах, измеренных при соответствующей температуре. Установлены также калибровочные коэффициенты для определения концентраций других вакансионно-кислородных комплексов VnOm (VO2, VO3, VO4, V2O и V3O) и кислородного димера (O2) из анализа спектров поглощения измеренных при комнатной температуре.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/13353</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/13319</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
