<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Коршунов Ф. П.</author>
     <author>Жданович Н. Е.</author>
     <author>Гуринович В. А.</author>
     <author>Лукша С. В.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>ВЛИЯНИЕ ЭЛЕКТРОННОГО ОБЛУЧЕНИЯ НА ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ p-n-СТРУКТУР НА ЯДЕРНО-ЛЕГИРОВАННОМ КРЕМНИИ</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>электронное облучение</keyword>
    <keyword>высоковольтные диодные p-n-структуры</keyword>
    <keyword>статические и динамические характеристики</keyword>
    <keyword>энергетические уровни</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2015</year>
    <pub-dates>
     <date>2016-05-20</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <journal>Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-математических наук</journal>
   <abstract>В работе проведены исследования влияния электронного облучения с энергией 4 МэВ на характеристики высоковольтных (до 4,5 кВ) диодных кремниевых p-n-структур, изготовленных на ядерно-легированном кремнии. Получены дозовые зависимости статических и динамических характеристик p-n-структур, определен коэффициент радиационных повреждений времени жизни неосновных носителей заряда Kτ . С помощью метода DLTS-спектроскопии определено образование в запрещенной зоне базового n-Si шести энергетических уровней радиационных дефектов, влияющих на характеристики облученных p-n-структур. </abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/13082</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/13048</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
