<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Макаренко Л. Ф.</author>
     <author>Ластовский С. Б.</author>
     <author>Гаубас Э. </author>
     <author>Павлов Е. </author>
     <author>Молл М. </author>
     <author>Якушевич А. С.</author>
     <author>Мурин Л. И.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>ИНЖЕКЦИОННЫЙ ОТЖИГ КОМПЛЕКСА  СОБСТВЕННОЕ ДИМЕЖДОУЗЛИЕ – КИСЛОРОД В КРЕМНИИ p-ТИПА</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>кремний</keyword>
    <keyword>радиационные дефекты</keyword>
    <keyword>междоузельные атомы</keyword>
    <keyword>рекомбинационно-ускоренные реакции</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2018</year>
    <pub-dates>
     <date>2018-07-01</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <doi>10.29235/1561-2430-2018-54-2-220-228</doi>
   <journal>Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-математических наук</journal>
   <abstract>Методом нестационарной спектроскопии глубоких уровней (DLTS) с использованием n+–p-структур исследовано влияние инжекции неосновных носителей заряда (электронов) на отжиг комплекса собственное димеждоузлие – кислород (I2O) в кремнии, облученном альфа-частицами. Показано, что в легированном бором кремнии, имеющем удельное сопротивление 10 Ом·см, инжекционно-стимулированный отжиг этого комплекса при комнатной температуре начинается при плотности прямого тока ~1,5 А/см2. При этом суммарная концентрация радиационных дефектов не превышала 15 % от начальной концентрации бора. В результате инжекционно-стимулированного отжига I2O образуется двухвалентная дырочная ловушка с уровнями Ev + 0,43 эВ и Ev + 0,54 эВ. Установлено, что в кремнии р-типа проводимости эта ловушка соответствует эмиссии дырок метастабильной конфигурацией бистабильного дефекта (BH-конфигурация). В основной конфигурации (ME-конфигурация) этот бистабильный дефект проявляет себя как электронная ловушка с уровнем Ec – 0,35 эВ. На основании данных об отношении амплитуд сигнала DLTS бистабильного дефекта в различных конфигурациях сделан вывод, что в ME-конфигурации он ведет себя как центр с отрицательной корреляционной энергией. Показано, что наличие инжекционно-стимулированных процес- сов существенно затрудняет получение достоверных данных о кинетике образования бистабильного дефекта в BH-конфигурации при исследовании термического отжига комплекса собственное димеждоузлие – кислород.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/12916</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/12882</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
