<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<xml>
 <records>
  <record>
   <ref-type name="Journal Article">17</ref-type>
   <contributors>
    <authors>
     <author>Поклонский Н. А.</author>
     <author>Деревяго А. Н.</author>
     <author>Вырко С. А.</author>
    </authors>
   </contributors>
   <titles>
    <title>Модель стационарной миграции свободных и прыгающих между акцепторами дырок в кристаллическом полупроводнике</title>
   </titles>
   <keywords>
    <keyword>полупроводник p-типа</keyword>
    <keyword>водородоподобные примеси</keyword>
    <keyword>прыжки дырок</keyword>
    <keyword>длина экранирования</keyword>
    <keyword>длина диффузии</keyword>
   </keywords>
   <dates>
    <year>2020</year>
    <pub-dates>
     <date>2020-04-06</date>
    </pub-dates>
   </dates>
   <doi>10.29235/1561-2430-2020-56-1-92-101</doi>
   <journal>Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-математических наук</journal>
   <abstract>В диффузионно-дрейфовом приближении построена феноменологическая теория сосуществующих миграции дырок v-зоны и миграции дырок посредством прыжков с водородоподобных акцепторов в зарядовом состоянии (0) на акцепторы в зарядовом состоянии (−1). Рассматривается кристаллический полупроводник p-типа при постоянной температуре, к которому приложено внешнее стационарное электрическое поле. В линейном приближении впервые получены аналитические выражения для длины экранирования статического электрического поля и длины диффузии дырок v-зоны и дырок, квазилокализованных на акцепторах. Представленные соотношения как частные случаи содержат известные выражения. Показано, что прыжковая миграция дырок по акцепторам приводит к уменьшению и длины экранирования, и длины диффузии.</abstract>
   <urls>
    <web-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/publication/12799</url>
    </web-urls>
    <pdf-urls>
     <url>https://www.academjournals.by/files/12765</url>
    </pdf-urls>
   </urls>
  </record>
 </records>
</xml>
