RT - article
SR - Electronic
T1 - Новые оксотеллуриты гадолиния: синтез и характеристика
JF - Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия химических наук
SP - 2024-11-30
DO - 10.29235/1561-8331-2024-60-4-281-289
A1 - Рустембеков К. Т., 
A1 - Тойбек А. А., 
A1 - Касенов Б. К., 
A1 - Стоев М. , 
YR - 2024
UL - https://www.academjournals.by/publication/12051
AB - Методом керамической технологии с твердофазным взаимодействием оксидов Gd2O3 и TeO2 с карбонатами MgCO3, CaCO3 синтезированы оксотеллуриты гадолиния GdMeTeO4,5 (Me–Mg, Сa). Рентгенографические характеристики получены при помощи порошкового дифрактометра Empyrean и специализированных программ Data Collector версии 7.7h и X'Pert HighScore Plus с использованием баз данных Crystallography Open Database и PDF-2. На основании рентгенографических исследований установлено, что синтезированные теллуриты кристаллизуются в тетрагональной сингонии. Достоверность и корректность результатов индицирования подтверждают удовлетворительное совпадение величин экспериментальных и расчетных параметров кристаллической решетки, объемов элементарных ячеек, рентгеновской и пикнометрической плотностей. Исследованием температурной зависимости электросопротивления теллурита гадолиния – магния установлено, что соединение может обладать полупроводниковыми свойствами с шириной запрещенной зоны ∆Е = 2,64 ± 0,13 ∙ 10–2 эВ. Результаты могут быть использованы для синтеза и изучения новых производных теллура и редкоземельных элементов и представляют интерес для электронной технологии. Рентгенографические характеристики новых теллуритов s-, f-элементов являются исходными материалами для включения в фундаментальные банки данных и справочники.